♧ 檢驗項目：幀結(jié)構(gòu)
♧ 檢驗分項：上行/下行配備1（子幀配備：DSUUDDSUUD）、常規(guī)長度CP、格外子幀配備5（DwPTS:GP:UpPTS=3:9:2）。
♧ 檢驗目的：驗證E-UTRAN支持5ms下行-上行轉(zhuǎn)換點周期，子幀配備為：DSUUDDSUUD；支持DwPTS:GP:UpPTS=3:9:2的格外子幀配備。
檢驗條件：
♧ eNodeB和協(xié)作檢驗終端硬件、軟件均支持上行/下行配備1，格外子幀配備5；UE已簽約。
♧ 檢驗進程：配備eNodeB系統(tǒng)上行/下行配備1、格外子幀配備5，選擇配備20MHz系統(tǒng)帶寬；使配備收效，E-UTRAN小區(qū)初步正常工作。
♧ 用矢量信號分析儀對eNodeB、終端的發(fā)射信號進行時域分析；檢驗終端在該小區(qū)開機進行隨機接入；檢驗終端進行RRC聯(lián)接建立、無線承載建立等進程，并查詢系統(tǒng)給終端調(diào)度的上行、下行本錢塊地點子幀方位。
♧ 預期效果：配備的小區(qū)能正常工作；幀結(jié)構(gòu)符合配備預期；終端接收到的SIB1中的subframeAssignment為sa1（配備1），specialSubframePatterns為ssp5（配備5）；檢驗終端能在該小區(qū)正常接入；檢驗終端能在該小區(qū)正常建立數(shù)據(jù)無線承載。
♧ 可以驗證系統(tǒng)能在全部（常規(guī)）上行子幀、下行子幀/時隙內(nèi)調(diào)度終端（調(diào)度給不一樣UE或先后調(diào)度給同一UE）。